德赛矽镨申请电量计芯片相关专利，能对电量计芯片进行全面评估确保正常工作和稳定性能

本文源自:金融界

金融界2024年11月22日消息，国家知识产权局信息显示，广东德赛矽镨技术有限公司申请一项名为“电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法、系统及介质”的专利，公开号CN 118981319 A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，本申请提供一种电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法、系统及介质；所述方法包括：获取当前电量计芯片的第一烧录文件和第二烧录文件对应的文件格式和烧录模块，基于文件格式的优先级对各烧录模块进行烧录；然后进入校准模式，根据字节状态位的递增状态，对当前电量计芯片的初始芯片参数进行校准，以获取目标芯片参数，并退出校准模式；再进一步响应于测试指令，对当前电量计芯片的防伪功能和功能保护进行测试本申请根据文件格式的优先级进行烧录确保所有必要的软件程序和配置信息被正确写入芯片；通过校准过程确保芯片参数的准确性和可靠性；通过相关功能测试能够提供对电量计芯片的全面评估，确保其正常工作和稳定性能。